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Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design / Nikhil Jayakumar (u. a.) / Buch / XXVII / Englisch / 2009 / Springer US / EAN 9781441909497 - Jayakumar, Nikhil
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Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design / Nikhil Jayakumar (u. a.) / Buch / XXVII / Englisch / 2009 / Springer US / EAN 9781441909497 - gebunden oder broschiert

2009, ISBN: 9781441909497

[ED: Gebunden], [PU: Springer US], Power consumption of VLSI (Very Large Scale Integrated) circuits has been growing at an alarmingly rapid rate. This increase in power consumption, coupl… Mehr…

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2009

ISBN: 9781441909497

Springer-Verlag New York Inc. Relié, Auflage: 2010 ed. 214 Seiten, Publiziert: 2009-12-03T00:00:01Z, Produktgruppe: Livre, 2.54 kg, Livres anglais et étrangers, Boutiques, Livres, Comic s… Mehr…

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2009, ISBN: 1441909494

2010 Gebundene Ausgabe Technology & Industrial Arts, COMPUTERS / CAD-CAM, COMPUTERS / Logic Design, TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / General, Schaltkreise und Kompone… Mehr…

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2009, ISBN: 9781441909497

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design

Power consumption of VLSI (Very Large Scale Integrated) circuits has been growing at an alarmingly rapid rate. This increase in power consumption, coupled with the increasing demand for portable/hand-held electronics, has made power consumption a dominant concern in the design of VLSI circuits today. Traditionally, dynamic (switching) power has dominated the total power consumption of an IC. However, due to current scaling trends, leakage power has now become a major component of the total power consumption in VLSI circuits. Leakage power reduction is especially important in portable/hand-held electronics such as cell-phones and PDAs. This book presents two techniques aimed at reducing leakage power in digital VLSI ICs. The first technique reduces leakage through the selective use of high threshold voltage sleep transistors. The second technique reduces leakage by applying the optimal Reverse Body Bias (RBB) voltage. This book also shows readers how to turn the leakage problem into an opportunity, through the use of sub-threshold logic.

Detailangaben zum Buch - Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design


EAN (ISBN-13): 9781441909497
ISBN (ISBN-10): 1441909494
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer-Verlag New York Inc.
214 Seiten
Gewicht: 0,510 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2007-12-17T05:54:55+01:00 (Zurich)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-02-11T22:40:42+01:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 1441909494

ISBN - alternative Schreibweisen:
1-4419-0949-4, 978-1-4419-0949-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: anu garg, sunil, gula, gulat
Titel des Buches: vlsi, mini design


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