2025, ISBN: 9789814273329
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Electromigration In Ulsi Interconnections (International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology, Band 0) - gebunden oder broschiert
2010, ISBN: 9789814273329
Wspc, Gebundene Ausgabe, Auflage: Illustrated, 312 Seiten, Publiziert: 2010-06-25T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: NUSTBK20171230-C0025961, 1.3 kg, Elektrotechnik, Ingenieu… Mehr…
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2010, ISBN: 9814273325
Gebundene Ausgabe TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Semiconductors, mit Schutzumschlag 11, [PU:World Scientific Publishing Company]
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2010
ISBN: 9789814273329
Wspc, Gebundene Ausgabe, Auflage: Illustrated, 312 Seiten, Publiziert: 2010-06-25T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: NUSTBK20171230-C0025961, 1.3 kg, Elektrotechnik, Ingenieu… Mehr…
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
Detailangaben zum Buch - Electromigration in Ulsi Interconnections by Cher Ming Tan Hardcover | Indigo Chapters
EAN (ISBN-13): 9789814273329
ISBN (ISBN-10): 9814273325
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Cher Ming Tan
291 Seiten
Gewicht: 0,570 kg
Sprache: eng/Englisch
Buch in der Datenbank seit 2012-01-13T18:40:48+01:00 (Zurich)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-12-08T01:30:13+01:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 9789814273329
ISBN - alternative Schreibweisen:
981-4273-32-5, 978-981-4273-32-9
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: tan, ming, cher
Titel des Buches: international electronic, solid state, ulsi technology
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