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Allyson L. Hartzell:

MEMS Reliability - gebunden oder broschiert

2010, ISBN: 1441960171

[EAN: 9781441960177], Neubuch, [PU: SPRINGER NATURE Nov 2010], TECHNOLOGY & INDUSTRIAL ARTS; ENGINEERING / ELECTRONICS CIRCUITS GENERAL; MICROELECTRONICS; MATERIALS SCIENCE, This item is … Mehr…

NEW BOOK. Versandkosten:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germany [57449362] [Rating: 5 (von 5)]
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Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea:

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2010, ISBN: 9781441960177

Buch, Hardcover, The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies tha… Mehr…

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Hartzell, Allyson L., Mark G. da Silva und Herbert R. Shea:
MEMS Reliability - gebrauchtes Buch

2010

ISBN: 9781441960177

[PU: Springer US], Neubindung, Buchschnitt leicht verkürzt 6155899/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2011, Banküberweisung, Kreditkarte, PayPal, Klarna-Sofort… Mehr…

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2010, ISBN: 1441960171

[EAN: 9781441960177], [PU: Springer], pp. 308 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam, Books

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ISBN: 9781441960177

hardback, [PU: Springer]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
MEMS Reliability
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

1441960171


The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it. MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.

Detailangaben zum Buch - MEMS Reliability


EAN (ISBN-13): 9781441960177
ISBN (ISBN-10): 1441960171
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: Springer-Verlag New York Inc.
290 Seiten
Gewicht: 0,617 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2009-03-22T04:27:00+01:00 (Zurich)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-12-11T08:42:12+01:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 1441960171

ISBN - alternative Schreibweisen:
1-4419-6017-1, 978-1-4419-6017-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: silva, mark ber, hartz, stephen shea, herbert hart, hartzell
Titel des Buches: mems reliability

Daten vom Verlag:

Autor/in: Allyson L. Hartzell
Titel: MEMS Reference Shelf; MEMS Reliability
Verlag: Springer; Springer US
291 Seiten
Erscheinungsjahr: 2010-11-11
New York; NY; US
Gedruckt / Hergestellt in Niederlande.
Sprache: Englisch
175,99 € (DE)

BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik; Verstehen; MEMS; MEMS reliability; design for reliability; design strategies; failure analysis; failure mechanisms; packaging and testing; process development and characterization; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; BC

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