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Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology: Gadest '95 : Held in Parkhotel Schloss Wulkow, Near Berlin, Germany September 02-07, 1995 (Solid State Phenomena, Vols 47-48) - H. Richter, H. Richter, M. Kittler, C. Claeys
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Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology: Gadest '95 : Held in Parkhotel Schloss Wulkow, Near Berlin, Germany September 02-07, 1995 (Solid State Phenomena, Vols 47-48) - Taschenbuch

ISBN: 390845011X

[SR: 14481251], Paperback, [EAN: 9783908450115], Trans Tech Publications, Ltd., Trans Tech Publications, Ltd., Book, [PU: Trans Tech Publications, Ltd.], Trans Tech Publications, Ltd., At… Mehr…

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Richter, Hans; Kittler, Martin and Claeys, Cor:
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology: Gadest '95 : Held in Parkhotel Schloss Wulkow, Near Berlin, Germany September 02-07, 1995 [Paperback - gebunden oder broschiert

1995, ISBN: 9783908450115

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1996, ISBN: 9783908450115

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology: Gadest '95 : Held in Parkhotel Schloss Wulkow, Near Berlin, Germany September 02-07, 1995 (Solid State Phenomena, Vols 47-48)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

390845011X

Detailangaben zum Buch - Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology: Gadest '95 : Held in Parkhotel Schloss Wulkow, Near Berlin, Germany September 02-07, 1995 (Solid State Phenomena, Vols 47-48)


EAN (ISBN-13): 9783908450115
ISBN (ISBN-10): 390845011X
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 1995
Herausgeber: Trans Tech Publications, Ltd.

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ISBN/EAN: 390845011X

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-908450-11-X, 978-3-908450-11-5
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: richter
Titel des Buches: berlin technology, schloss berlin, september, wulkow

Daten vom Verlag:

Autor/in: H Richter; M Kittler; C Claeys
Titel: Solid State Phenomena; Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - Gadest '95
Verlag: Trans Tech
640 Seiten
216,00 € (DE)
260,00 CHF (CH)
Not available (reason unspecified)

BC; KART; Störstelle; Getter; Halbleiter

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