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Optical Imaging and Metrology Advanced Technologies 1. Auflage - Osten, Wolfgang und Nadya Reingand
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Osten, Wolfgang und Nadya Reingand:

Optical Imaging and Metrology Advanced Technologies 1. Auflage - gebrauchtes Buch

2012, ISBN: 9783527410644

1. Auflage Gepflegter, sauberer Zustand. 11964413/2 Versandkostenfreie Lieferung Physics,Optik u. Photonik,Nanobiotechnology,Nanophysik,Physik,Bildgebende Systeme u. Verfahren,Optics & Ph… Mehr…

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Osten, Wolfgang Reingand, Nadya:

Optical Imaging and Metrology - Erstausgabe

2012, ISBN: 9783527410644

Gebundene Ausgabe

[ED: Gebunden], [PU: Wiley-VCH], A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imag… Mehr…

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Osten, Wolfgang und Nadya Reingand:
Optical Imaging and Metrology Advanced Technologies - Erstausgabe

2012

ISBN: 9783527410644

[PU: Wiley-VCH], Gepflegter, sauberer Zustand. 11964413/2, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 1. Auflage, Banküberweisung, Kreditkarte, PayPal, Klarna-Sofortüberwe… Mehr…

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Osten W:
Optical Imaging And Metrology (Hb 2012) - neues Buch

2012, ISBN: 9783527410644

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Optical Imaging and Metrology - gebunden oder broschiert

2012, ISBN: 3527410643

[EAN: 9783527410644], Neubuch, [PU: John Wiley & Sons], pp. 502, Books

NEW BOOK. Versandkosten: EUR 10.54 Majestic Books, Hounslow, United Kingdom [51749587] [Rating: 4 (von 5)]

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Details zum Buch
Optical Imaging and Metrology

A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imaging and optical metrology, an area of fast growth with numerous applications in nanotechnology and nanophysics. Written by the world's leading experts in the field, it fills the gap in the current literature by bridging the fields of optical imaging and metrology, and is the only up-to-date resource in terms of fundamental knowledge, basic concepts, methodologies, applications, and development trends.

Detailangaben zum Buch - Optical Imaging and Metrology


EAN (ISBN-13): 9783527410644
ISBN (ISBN-10): 3527410643
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2012
Herausgeber: Wiley-VCH
482 Seiten
Gewicht: 1,090 kg
Sprache: Englisch

Buch in der Datenbank seit 2009-07-14T16:56:43+02:00 (Zurich)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-10-06T23:31:38+02:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 9783527410644

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-527-41064-3, 978-3-527-41064-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: wolfgang osten, ost, wiley vch
Titel des Buches: metro, advanced optical imaging, wolfgang


Daten vom Verlag:

Autor/in: Wolfgang Osten; Nadya Reingand
Titel: Optical Imaging and Metrology - Advanced Technologies
Verlag: Wiley-VCH; Wiley-VCH
482 Seiten
Erscheinungsjahr: 2012-08-22
Gedruckt / Hergestellt in Singapur.
Gewicht: 1,084 kg
Sprache: Englisch
145,00 € (DE)
Not available (reason unspecified)
170mm x 240mm x 27mm

BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Elektrizität, Magnetismus, Optik; Optische Physik; Verstehen; Physik; Analyse u. Charakterisierung von Nanosystemen; Analysis/Characterization of Nanosystems; Bildgebende Systeme u. Verfahren; Bildgebendes Verfahren; Biowissenschaften; Chemie; Chemistry; Electrical & Electronics Engineering; Electrical Engineering - Displays; Elektronische Displays; Elektrotechnik u. Elektronik; Imaging Systems & Technology; Life Sciences; Manipulation of Nanosystems; Manipulation von Nanosystemen; Materials Science; Materialwissenschaften; Microscopy; Mikroskopie; Nanobiotechnologie; Nanobiotechnology; Nanomaterialien; Nanomaterials; Nanophysics; Nanophysik; Nanotechnologie; Nanotechnology; Optical and Non-Linear Optical Materials; Optics & Photonics; Optik; Optik u. Photonik; Optische Messtechnik; Optische u. Nichtlineare Optische Materialien; Physics; Physik; Mikroskopie; Bildgebende Systeme u. Verfahren; Elektronische Displays; Mikroskopie; Optische u. Nichtlineare Optische Materialien; Nanomaterialien; Nanophysik; Nanobiotechnologie; Analyse u. Charakterisierung von Nanosystemen; Manipulation von Nanosystemen; Optik u. Photonik

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