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4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors: Process and characterization techniques - Perrone, Denis
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Perrone, Denis:

4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors: Process and characterization techniques - Taschenbuch

2010, ISBN: 9783838380643

LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, 116 Seiten, Publiziert: 2010-07-26T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.18 kg, Elektrotechnik, Ingenieurwissenschaft & Technik, Naturwissenschaf… Mehr…

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2010, ISBN: 9783838380643

LAP LAMBERT Academic Publishing, Taschenbuch, 116 Seiten, Publiziert: 2010-07-26T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 0.18 kg, Elektrotechnik, Ingenieurwissenschaft & Technik, Naturwissenschaf… Mehr…

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2010

ISBN: 9783838380643

LAP LAMBERT Academic Publishing, Paperback, 116 Seiten, Publiziert: 2010-07-26T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.18 kg, Electronics Engineering, Electronics & Communications Engineering, … Mehr…

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2010, ISBN: 9783838380643

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2007, ISBN: 9783838380643

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors: Process and characterization techniques

Silicon Carbide (SiC) is a semiconductor employed for the fabrication of high - power and high - frequency electronic devices, with lower power losses and smaller size than their Si or GaAs counterparts. Recently, SiC substrates with a very low defect density, and with a good control on the doping characteristics became commercially available. Due to these technological improvements, the polytype 4H can be exploited in all its potential in order to fabricate Schottky Barrier Diodes (SBDs) and Junction Field Effect Transistors (JFETs). SiC SBDs with 600 V blocking voltage capabilities have been yet commercialized. This device can provide theoretical blocking voltage values as high as 3300 V with low leakage currents, well beyond the performances of the Si - based counterpart. In particular, SiC - based transistor JFETs can be designed with a vertical structure using the 4H polytype, because of the high values of the on - axis mobility. This book provides to the researchers in the field of SiC power devices an introduction to the process techniques commonly employed for the fabrication and characterization of SiC SBDs and JFETs.

Detailangaben zum Buch - 4H-SiC Schottky Barrier Diodes and Junction Field Effect Transistors: Process and characterization techniques


EAN (ISBN-13): 9783838380643
ISBN (ISBN-10): 3838380649
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2010
Herausgeber: LAP LAMBERT Academic Publishing
116 Seiten
Gewicht: 0,189 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2008-07-30T12:01:24+02:00 (Zurich)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-01-22T13:33:32+01:00 (Zurich)
ISBN/EAN: 9783838380643

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-8383-8064-9, 978-3-8383-8064-3
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: perrone, denis den, dénis
Titel des Buches: sic diodes, sic non, transistors


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